CARRERA, R.; CASTILLO, N.; ARCE, E.; VÁZQUEZ, A. L.; MORAN-PINEDA, M.; MONTOYA, J. A.; DEL ÁNGEL, P.; CASTILLO, S. Nanocrystals Analysis of TIO2 by X-Ray Rietveld Refinement and Transmission Electron Microscopy (TEM). Acta Microscopica, v. 17, n. 1, p. 85-93, 1 dez. 2008.