- Abstract viewed - 145 times
- PDF downloaded - 193 times
Affiliations
M. P. Herrera-Gorocica
Affiliation not stated
P. Bartolo-Pérez
CINVESTAV-IPN. Departamento de Física Aplicada. Mérida, Yuc., México.
C. Calderón
Affiliation not stated
J. L. Peña
Affiliation not stated
How to Cite
Determinación de Factores de Sensibilidad EDS, AES Y XPS de Estándares de CuInSe2 e In2Se3
Vol 21 No 1 (2012)
Published: Feb 27, 2012
Abstract
Las celdas solares basadas en la tecnología de película delgada de CuInSe2 actualmente se están estudiando ampliamente. El análisis químico cuantitativo correcto es muy importante para el funcionamiento adecuado de este tipo de celdas solares. Usando estándares de alta pureza de CuInSe2 y In2Se3, se determinaron los factores de sensibilidad relativos correctos para la cuantificación con las espectroscopias EDS, AES y XPS. Para hacer un análisis correcto con EDS de este tipo de películas delgadas (> 0.5 μm) es importante conocer aproximadamente las profundidades que penetran los electrones y desde donde provienen los rayos X, por lo que se determinan estas profundidades mediante formulas analíticas y simulaciones de Monte Carlo. Se comparan los factores de sensibilidad obtenidos con los reportados en los manuales de AES y XPS.